DJ-CA100 Cleanliness Analysis System
Hoogwaardig technisch controlesysteem voor de hygiëne
Snelle, nauwkeurige meetgegevens
Gebruiksgemak en efficiëntie
Deeltjes van 2.5 µm tot 42 mm
Het samenvoegen van grote deeltjes
Reproduceerbare observatieomstandigheden
Resultaten worden automatisch geclassificeerd
Samenvatting
DJ-CA100 Cleanliness Analyzer is een
hoogwaardig testsysteem voor deeltjes
dat wordt gebruikt in de auto-onderdelen, de lucht- en ruimtevaart en de hydraulische smeerindustrie. Het heeft de voordelen van professionele, standaardisering en traceerbare testresultaten. Het systeem integreert geïmporteerde optische microscoop, zeer stabiele gemotoriseerde fase, automatische analysesoftware, HD-beeldscan CCD, met hoge automatisering, workflow-ontwerpmodus, eenvoudige bediening, snel en efficiënt vastleggen van beelden, automatische compensatie en focus om ervoor te zorgen dat elk beeldframe helder is, naadloos browsen, intelligente herkenningsstatistieken, en volgens selectiecriteria resultaten en rapporten genereren. Al het analyseproces gebaseerd op ISO16232, VDA19 en andere standaarden om te voldoen aan de normen voor het testen van de netheid van grote automobielfabrieken zoals Volkswagen, BMW, GM, Ford, en door de gebruiker gedefinieerde standaarden te ondersteunen.
Toepassingen
DJ-CA100 Cleanliness Analyzer voldoet volledig aan de vereisten van VDA 19.1-2015, ISO 16232, ISO4406 en ISO 4407, QV11111 en door de klant gedefinieerde normen. De toegepaste optische polarisatietechnologie, het polarisatieapparaat handmatig roteren, de metallic luster reflectie eigenschappen van alle verontreinigende stoffen op het hele filter kunnen worden bepaald door twee scans. Tegelijkertijd kan
volgens de morfologische definitie van vezels in VDA19.1 (reklengte/maximale ingeschreven cirkeldiameter>20, maximale ingeschreven cirkeldiameter<=50 micron) de indeling en classificatie van de volgende vier soorten deeltjes snel en automatisch binnen een paar minuten worden voltooid. Maatmeting: Reflecterende deeltjes, reflecterende vezels, niet-reflecterende deeltjes, niet-reflecterende vezels.
Microscopische beeldanalyse | ||||||||
Schaal | 4.3801 μm/pixel | Analysediameter[mm] | 46.31 | |||||
Deeltjestelling | 26585 | Filtermembraan dekking | 0.55% | |||||
Standaard | VDA19 | |||||||
Klasse | X-bereik μm | Gemeten telling (zonder vezel) | Gemeten telling van metaal | Gemeten aantal vezels | Equivalent aantal (zonder vezel) | Equivalent aantal metaal | Equivalent aantal vezels | |
B | 5<=X<15 | 11619 | 10 | 0 | 11619 | 10 | 0 | |
C | 15<=X<25 | 6954 | 14 | 0 | 6954 | 14 | 0 | |
D | 25<=X<50 | 5477 | 49 | 0 | 5477 | 49 | 0 | |
E | 50<=X<100 | 1775 | 97 | 0 | 1775 | 97 | 0 | |
F | 100<=X<150 | 406 | 134 | 0 | 406 | 134 | 0 | |
G | 150<=X<200 | 158 | 105 | 0 | 158 | 105 | 0 | |
H | 200<=X<400 | 139 | 118 | 19 | 139 | 118 | 19 | |
IK | 400<=X<600 | 10 | 9 | 8 | 10 | 9 | 8 | |
J | 600<=X<1000 | 6 | 6 | 6 | 6 | 6 | 6 | |
K | 1000<=X<1500 | 2 | 2 | 5 | 2 | 2 | 5 | |
L | 1500<=X<2000 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 1 | |
M | 2000<=X<3000 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | |
N | X>=3000 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |