Parameter | Wert | Einheit |
VDS | 650 | V |
ID , Impuls | 96 | A |
RDS (EIN), MAX . @ VGS =10V | 99 | MΩ |
Qg | 66,6 | NC |
Produktname | Paket | Markierung |
OSG65R099HSZAF | TO247 | OSG65R099HSZA |
Parameter | Symbol | Wert | Einheit |
Spannung der Abflussquelle | VDS | 650 | V |
Gate-Source -Spannung | VGS | ±30 | V |
Dauerablauf current1 ) , TC = 25 Grad |
ID |
32 |
A |
Dauerablauf current1 ) , TC = 100 Grad | 20 | ||
Gepulster Ablauf current2 ) , TC = 25 oC | ID , Impuls | 96 | A |
Dauerdiode vorwärts current1 ) , TC =25 Grad | IST | 32 | A |
Diode gepulst current2 ) , TC =25 oC | IS , Puls | 96 | A |
Leistung dissipation3 ) , TC = 25 Grad | PD | 278 | W |
Lawinenabgang mit einem Impuls energy5 ) | EAS | 648 | MJ |
MOSFET dv/dt Robustheit, VDS =0…480 V | dv/dt | 50 | V/ns |
Rückdiode dv/dt, VDS =0…480 V, ISD ≤ID | dv/dt | 50 | V/ns |
Betriebs- und Lagertemperatur | Tstg , Tj | -55 bis 150 | GRAD |
Parameter | Symbol | Wert | Einheit |
Thermischer Widerstand, Anschlussgehäuse | RθJC | 0,45 | C/W |
Thermischer Widerstand, Diaphragma- ambient4 ) | RθJA | 62 | C/W |
Parameter | Symbol | Min. | Typ. | Max. | Einheit | Testbedingung |
Durchschlagspannung der Abflussquelle | BVDSS | 650 | V | VGS =0 V, ID =1 MA | ||
Gate-Schwellenspannung | VGS (th) | 3,0 | 4,5 | V | VDS =VGS , ID =1 MA | |
Widerstand der Abflussquelle im ein-Zustand |
RDS (EIN) |
0,090 | 0,099 |
Ω |
VGS =10 V, ID =16 A | |
0,21 | VGS =10 V, ID =16 A, TJ =150 GRAD | |||||
Leckstrom der Gate-Quelle |
IGSS |
100 |
Entfällt |
VGS = 30 V | ||
-100 | VGS = -30 V | |||||
Leckstrom der Abflussquelle | IDSS | 10 | μA | VDS = 650 V, VGS = 0 V. | ||
Gate-Widerstand | RG | 7,8 | Ω | ƒ=1 MHz, offener Drain |
Parameter | Symbol | Min. | Typ. | Max. | Einheit | Testbedingung |
Eingangskapazität | Ciss | 3988 | PF |
VGS =0 V, VDS =50 V, ƒ = 100 kHz |
||
Ausgangskapazität | Coss | 210 | PF | |||
Kapazität der Umkehrübertragung | Crs | 7,4 | PF | |||
Effektive Ausgangskapazität, energiebezogen | Co (er) | 124 | PF |
VGS = 0 V, VDS = 0 V-400 V |
||
Effektive Ausgangskapazität, zeitbezogen | Co (tr) | 585 | PF | |||
Einschaltverzögerung | td (ein) | 46,0 | ns |
VGS =10 V, VDS =400 V, RG =2 Ω, ID =20 A |
||
Anstiegszeit | tr | 60,3 | ns | |||
Verzögerungszeit ausschalten | td (aus) | 93,0 | ns | |||
Herbstzeit | tf | 3,7 | ns |
Parameter | Symbol | Min. | Typ. | Max. | Einheit | Testbedingung |
Gesamtgebühr für Gate | Qg | 66,6 | NC |
VGS =10 V, VDS =400 V, ID =20 A |
||
Gate-Source -Gebühr | Qgs | 20,6 | NC | |||
Gate-Drain -Ladung | Qgd | 24,8 | NC | |||
Gate-Plateauspannung | Vplateau | 6,7 | V |
Parameter | Symbol | Min. | Typ. | Max. | Einheit | Testbedingung |
Diodenvorwärtsspannung | VSD | 1,3 | V | IS =32 A, VGS =0 V | ||
Rückfahrzeit | trr | 151,7 | ns |
IST = 20 A, Di/dt=100 A/μs |
||
Rückfahrladung | Qrr | 1,0 | μC | |||
Spitzenstrom für Rücklauf | Irrm | 12,3 | A |